產品名稱：TT230涂層測(ce)厚(hou)儀
產品型號：
更新時間：2023-12-02
產品特點：TT230涂層測厚儀(yi)是一種(zhong)超小型的(de)涂層測厚儀(yi)，它能(neng)快(kuai)速、無(wu)損傷(shang)、精(jing)頦地進行非磁(ci)性金屬(shu)基體(ti)上非導電覆層厚度的(de)測量(liang)。可(ke)廣(guang)泛用(yong)于制造業(ye)(ye)、金屬(shu)加工業(ye)(ye)、商(shang)檢等檢測領域。體(ti)積小，測頭與儀(yi)器一體(ti)化(hua)，涂層測厚儀(yi)TT230特別適用(yong)于工程現場測量(liang)
TT230涂層測厚儀的詳細資料：
TT230涂層測厚儀，TT230時代涂層測厚儀
涂層測厚儀TT230是一種超小型的涂層測厚儀，TT230涂層測厚儀它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、商檢等檢測領域。體積小，測頭與儀器一體化，涂層測厚儀TT230特別適用(yong)于工程現(xian)場測量。
要功能
可進行零點校準及二點校準。
可對測頭進行基本校準。
設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO）、 標準偏差（S.DEV）。可存貯和統計計算15個測量值。
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
自動關機功能。
刪除功能：對測量中出現的單次可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行 新的測量。
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯誤提示功能。
涂層測厚儀TT230主要技術指標
測量原理：渦流法
測量范圍：1～1250μm
測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準）
±[（1～3）%H+1.5] μm（二(er)點校準）
| 如果你對TT230涂層測厚儀感興趣，想了解更詳細的產品信息，填寫下表直接與廠家聯系： |
