產品名稱：TH2661四(si)探針測試儀
產品型號：
更新時間：2023-12-03
產品特點：TH2661四探針測(ce)試(shi)儀，可測(ce)量(liang)(liang)片狀、塊狀半導體材(cai)料的徑向(xiang)和軸(zhou)向(xiang)電(dian)阻率及(ji)擴散層的薄層電(dian)阻，適用于半導體和太陽能材(cai)料測(ce)試(shi)的要求，也可對分(fen)立電(dian)阻進行(xing)測(ce)量(liang)(liang)，USB接(jie)口(kou)可為用戶(hu)提供遠程控制(zhi)及(ji)測(ce)試(shi)數(shu)據的統計和分(fen)析。
TH2661四探針測試儀的詳細資料：
TH2661四探針測試儀
TH2661型四探針測試儀性能特點
大屏幕液晶顯示
可手動或自動選擇合適的電流源量程
預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率
200個讀數存儲，可對存儲讀數求zui大...
0.5%基本精度，分辨率達0.01%...
自動關機功能
采用SMT表面貼裝工藝
電流源方向有正方向、反方向和正反方向...
報警門限預設，可用于HI PASS ...
USB通訊功能，可通過上位機軟件對手...
讀數穩定性好
電(dian)池(chi)及(ji)外接電(dian)源供電(dian)方式
TH2661型四探針測試儀簡要說明
TH2661四探針測試儀可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數據的統計和分析。 由于采(cai)用了電(dian)(dian)池和外接電(dian)(dian)源(yuan)兩種供電(dian)(dian)方式，既(ji)能(neng)適(shi)應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶(dai)以(yi)滿(man)足測試人員的(de)現場測試要求
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