測厚儀主要類型
激光測厚儀：是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種工業設備。
X射線測厚儀：利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工.
紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
適(shi)合測量金屬(shu)（如(ru)鋼、鑄鐵(tie)、鋁、銅(tong)等）、塑(su)料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。
X射線測厚儀：適用生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業，可以與軋機配套，應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，x射線測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。
涂層測厚儀F型探頭可直接測量導磁材料（如鋼鐵、鎳）表面上的非導磁覆蓋層厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻、等）。可應用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測量，也可用于船體油漆及水下結構件的附著物的厚度測量。
涂層測厚儀：
涂(tu)(tu)層(ceng)測厚(hou)儀采用(yong)電(dian)磁感(gan)應法測量涂(tu)(tu)層(ceng)的(de)厚(hou)度。位于部件表面(mian)的(de)探(tan)頭(tou)產生一個(ge)閉(bi)合的(de)磁回(hui)路，隨著探(tan)頭(tou)與鐵磁性材(cai)料間的(de)距(ju)離(li)的(de)改變(bian)，該磁回(hui)路將不同程度的(de)改變(bian)，引起(qi)磁阻及(ji)探(tan)頭(tou)線圈電(dian)感(gan)的(de)變(bian)化。利(li)用(yong)這(zhe)一原理可以地測量探(tan)頭(tou)與鐵磁性材(cai)料間的(de)距(ju)離(li)，即涂(tu)(tu)層(ceng)厚(hou)度。
涂層測厚儀具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具(ju)有兩種工作方式：直(zhi)接方式（DIRECT）和(he)成(cheng)組方式（APPL）；
設有五個統計量：平均值(zhi)（MEAN）、zui大值(zhi)（MAX）、zui小值(zhi)（MIN）、測試(shi)次數（NO．）、標(biao)準偏差（S．DEV）
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