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PosiTest DFT 涂層測厚儀
PosiTest DFT 涂層測厚(hou)儀-美國(guo)DeFelsko公司 美國(guo)DeFelsko公司PosiTest DFT涂層測厚(hou)儀系列(lie)包括PosiTest DFT-F涂層測厚(hou)儀和PosiTest DFT-COMBO涂層測厚(hou)儀。
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PosiTector6000涂層測厚儀
PosiTector6000涂層測厚儀-美(mei)(mei)國DeFelsko公司 美(mei)(mei)國DeFelsko公司新的PosiTector6000系(xi)列涂鍍層測厚儀 特(te)點
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PosiTector200超聲波涂層測厚儀
PosiTector200超聲波涂(tu)層(ceng)測(ce)厚儀-美國(guo)DeFelsko公司 美國(guo)DeFelsko公司經濟(ji)實(shi)用,方便(bian)快捷,可無損(sun)測(ce)量(liang)多(duo)種涂(tu)層(ceng)的厚度,包括木材、混凝土(tu)等的表面(mian)涂(tu)層(ceng)。
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MikroTest F6涂層測厚儀
MikroTest F6涂(tu)層測厚儀(yi)-德(de)國麥(mai)考特 德(de)國EPK(Elektrophysik)公司 MikroTest F6系列覆層測厚儀(yi),測量(liang)鋼(gang)鐵(tie)上所有非磁性涂(tu)鍍層厚度(如(ru)油漆、粉(fen)末涂(tu)層、塑料、橡膠(jiao)、鋅(xin)、銅(tong)、錫和(he)鎳等)。測量(liang)快速、精確(que)、無損。三十多年來 MikroTest F6已(yi)成為被(bei)廣(guang)泛應用(yong)的自(zi)動(dong)測定涂(tu)鍍層厚度的儀(yi)器。
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MikroTest G6涂層測厚儀
MikroTest G6涂層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測厚(hou)儀-德(de)國(guo)麥考(kao)特 德(de)國(guo)EPK(Elektrophysik)公(gong)司 MikroTest G6系(xi)列(lie)覆層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)測厚(hou)儀,測量(liang)鋼(gang)鐵(tie)上所有非磁性涂鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度(如油漆、粉(fen)末(mo)涂層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)、塑料、橡膠(jiao)、鋅、銅、錫(xi)和鎳等)。測量(liang)快速、精確、無損。三十多(duo)年(nian)來 MikroTest G6已成為被廣(guang)泛應用(yong)的自動測定涂鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度的儀器。
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MiniTest 600BFN涂鍍層測厚儀
MiniTest 600BFN涂鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀-德國EPK公(gong)司 德國EPK(Elektrophysik)公(gong)司MiniTest600BFN系列(lie)涂鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀一直致力于開發(fa)和生產各(ge)種用于表面處(chu)理行業的精密測(ce)量儀器。德國EPK公(gong)司MiniTest600BFN作為無損涂層(ceng)厚(hou)度測(ce)量領(ling)域的,EPK公(gong)司與各(ge)標(biao)準(zhun)化(hua)組織(zhi)和研究院一道,成功地推進了涂層(ceng)厚(hou)度測(ce)量在(zai)世界范圍內的標(biao)準(zhun)化(hua)進程。
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MINITEST 720涂鍍層測厚儀
MINITEST 720涂(tu)鍍層測厚儀-德國EPK公司(si) MINITEST 720/730/740涂(tu)層測厚儀可(ke)(ke)以(yi)讓(rang)您(nin)輕松(song)變換(huan)測量(liang)需(xu)(xu)求(qiu)。在對(dui)精(jing)(jing)度(du)要(yao)求(qiu)不高的條件下,您(nin)可(ke)(ke)以(yi)短時間測量(liang)大(da)量(liang)數(shu)值;也可(ke)(ke)以(yi)只測量(liang)少數(shu)幾(ji)個數(shu)值,但要(yao)求(qiu)精(jing)(jing)度(du)很高,您(nin)只需(xu)(xu)選擇(ze)相(xiang)應的模式(shi)就(jiu)可(ke)(ke)以(yi)做到(dao)
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MINITEST 740涂鍍層測厚儀
MINITEST 740涂(tu)鍍層測(ce)厚(hou)儀-德國(guo)EPK公(gong)司 德國(guo)EPK公(gong)司 minitest 740涂(tu)鍍層測(ce)厚(hou)儀有8種(zhong)探頭(tou)型號:訂(ding)購 MINITEST 740涂(tu)層測(ce)厚(hou)儀需(xu)要選配下面探頭(tou)注意(yi);探頭(tou)連接(jie)線選配(外置);
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MINITEST 730涂層測厚儀
MINITEST 730涂(tu)層測(ce)厚儀(yi)-德國EPK公司 及SIDSP 新的MINITEST 700產品(pin)線,加強了EPK在涂(tu)層測(ce)厚市場的. 有了新的SIDSP F型(xing)探頭(tou)(測(ce)量鐵(tie)基(ji)(ji)體(ti))和N型(xing)探頭(tou)(測(ce)量非鐵(tie)基(ji)(ji)體(ti)),您可享受(shou)到(dao)高精確度和高重現性(xing)帶(dai)給您的優勢和便(bian)利。
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MiniTest 4100涂鍍層測厚儀
MiniTest 4100涂鍍層(ceng)測厚儀-德國(guo)EPK公司 MiniTest4100涂層(ceng)測厚儀可選探(tan)(tan)頭(tou)參數( 探(tan)(tan)頭(tou)圖示) 所有探(tan)(tan)頭(tou)都可配(pei)合任一主機使用。在選擇Z適用的探(tan)(tan)頭(tou)時(shi)需要考慮覆層(ceng)厚度,基體(ti)材(cai)料(liao)以及基體(ti)的形狀(zhuang)、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
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MiniTest3100涂鍍層測厚儀
MiniTest3100涂鍍(du)層測厚儀-德(de)國EPK公司(si) 德(de)國EPK(Elektrophysik)公司(si)MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍(du)層測厚儀特(te)點(dian): MiniTest1100/2100/3100/4100包括四(si)種不同的(de)主(zhu)機,各(ge)自具有不同的(de)數據處(chu)理功能; 所有型號均(jun)可(ke)配所有探頭;
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MiniTest 1100涂鍍層測厚儀-
MiniTest 1100涂鍍層測厚(hou)儀-德國EPK公(gong)司(si) 德國EPK(Elektrophysik)公(gong)司(si)MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚(hou)儀特點: MiniTest1100/2100/3100/4100包(bao)括四種不同的主機,各(ge)自具有不同的數據處理(li)功能; 所有型(xing)號均可配所有探(tan)頭;
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MiniTest2100涂鍍層測厚儀
MiniTest2100涂鍍(du)層(ceng)測厚儀(yi)-德國EPK公司(si) 德國EPK(Elektrophysik)公司(si)MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍(du)層(ceng)測厚儀(yi)特點: MiniTest1100/2100/3100/4100包括四(si)種不同的(de)主機(ji),各自具有不同的(de)數據處理功能(neng); 所(suo)有型號(hao)均可配所(suo)有探頭;
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QUINTSONIC超聲涂層測厚儀
QUINTSONIC超聲涂(tu)層測(ce)厚(hou)儀(yi)-德國EPK公司 quintsonic涂(tu)層測(ce)厚(hou)儀(yi)是*一(yi)種無損(sun)的、能(neng)方便、快捷(jie)、測(ce)量(liang)非(fei)金屬(shu)材料上各涂(tu)層厚(hou)度(du)的儀(yi)器。而此(ci)前,這類涂(tu)層只能(neng)有(you)損(sun)測(ce)量(liang)。
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筆式和迷你筆式測厚儀
筆(bi)(bi)(bi)式和迷你筆(bi)(bi)(bi)式測(ce)厚儀(yi)-德國(guo)EPK公司 筆(bi)(bi)(bi)式測(ce)厚儀(yi)測(ce)量鐵基(ji)體上(shang)的非磁(ci)(ci)性(xing)涂層 經濟實(shi)用 測(ce)量準(zhun)確 應用磁(ci)(ci)吸力原理(li) 永性(xing)磁(ci)(ci)頭
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PIG455多用途干膜檢驗儀
PIG455多(duo)用途干(gan)膜檢驗儀-德國(guo)(guo)ERICHSEN公司 德國(guo)(guo)ERICHSEN公司測試(shi)原理(li): 455測量基于標準楔形切割程序:涂層以一個(ge)定(ding)義的(de)(de)角(jiao)度(du)被(bei)劃破到基材,涂層的(de)(de)厚(hou)度(du)(s)根據切割面的(de)(de)三角(jiao)形投影(b)計(ji)算出(chu)來,這由一個(ge)顯微鏡和切割角(jiao)(а)決定(ding)。依據相同的(de)(de)原理(li),多(duo)層涂層系統的(de)(de)每層涂層厚(hou)度(du)也可計(ji)算出(chu)來,
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